Beim Pwn2Own-Wettbewerb in Toronto haben Sicherheitsforscher Drucker, Smartphones und IoT-Geräte auf Sicherheit abgeklopft. Beliebtes Ziel war das Galaxy S23. Dieser Artikel wurde indexiert von heise Security Lesen Sie den originalen Artikel: Hackerwettbewerb Pwn2Own: Teilnehmer knacken Samsungs Galaxy S23 mehrmals